Silicon wafer

Überwachung von und Fehlererkennung in Fabrikchemikalienprozessen

Erhöhter Ertrag und Schutz von Werkzeugen und Waferqualität durch Inline-Messungen in Echtzeit für nass-chemische Analytik

Semiconductor production fab cleanroom with AGV robots

Stabile Chipqualität durch zuverlässige Chemikalienprozesssteuerung

Die Chipqualität in der Halbleiterfertigung hängt eng davon ab, wie gut die Prozessvariabilität gesteuert wird. In der Praxis bedeutet dies, die Verteilungen sicher innerhalb der unteren und oberen Spezifikationsgrenzwerte zu halten und kontinuierlich die qualitätskritischen Merkmale (Critical to Quality, CTQ) sowie die Kundenanforderungen zu erfüllen. Übermäßige Variabilität führt schnell zu Produktqualitätsproblemen, Ertragsverlust und Nacharbeit. Um eine stabile Versorgung guter Produkte auf den Markt zu gewährleisten, benötigen Fabriken fundierte Qualitätskennzahlen, eine strenge Prozesssteuerung und eine zuverlässige Chemikalienüberwachung.

Einen wichtigen Teil der Produktqualität und Herstellung stellen Chemikalien dar. In den Halbleiterwaferanlagen werden während des gesamten Herstellungsprozesses große Mengen an Chemikalien verbraucht. Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit jedes Chemikalienschrittes sind von höchster Bedeutung. Selbst geringfügige Abweichungen von der Spezifikation können eine kostspielige Kontamination der Geräte und Ausschuss von Wafern verursachen.

Silicon wafer containing microchips

Lassen Sie nicht zu, dass Wafer zu Chemikalienmonitoren werden

Aus Sicht der Chemikalien gibt es zwei Hauptvorgänge, die direkt mit der Produktqualität zusammenhängen:

  • Prozessüberwachung: Aufrechterhaltung der gewünschten Chemikalienzusammensetzung im Zeitverlauf.
  • Fehlererkennung: Sicherstellung, dass die richtige Chemikalie in der richtigen Konzentration an den Prozess abgegeben wird.

Dank genauer Echtzeitüberwachung sind Fabriken stets über die Zusammensetzung jedes Chemikalienstroms informiert. Ohne Überwachung werden Wafer praktisch zu Chemikalienmonitoren. Wenn ein Problem erst auf der Waferebene erkannt wird, sind bereits Wafer verloren gegangen. Dies kann zu einer großflächigen Kontamination der Geräte und so zu erhöhten Kosten und Ausfallzeiten führen.

Typische Chemikalien

Zu den typischerweise überwachten Chemikalien gehören HF, IPA, DHF, H₂O₂, HNO₃, HCl, KOH, NaOH und NH₄OH, die in der Reinigung, beim Ätzen und anderen Nassprozessen verwendet werden.

 

Compact Semicon Refractometer PR-33-S with an ultra pure modified PTFE flow cell body for semiconductor liquid chemical processes.

Inline-Messung von Chemikalienkonzentrationen in Echtzeit für Halbleiternassprozesse

Das Vaisala K‑PATENTS® Halbleiterrefraktometer bietet Flüssigkeitsüberwachung in Echtzeit und verhindert, dass falsche Chemikalienkonzentrationen auf Wafer abgegeben werden. Das Refraktometer weist auf das Timing für Spikebildung, z. B. für Wasser in EKC bei der Nachätz-Restentfernung, hin und zeigt die Badlebensdauer und die KOH-Konzentration beim Ätzen von Silizium an. Das voll integrierbare Halbleiterrefraktometer unterstützt intelligente Fabriken und Selbstdiagnose. Es ist in Ex-zertifizierten Produktausführungen für Ex-Bereiche erhältlich.

Dank hochpräziser, zuverlässiger und reproduzierbarer Messungen dienen Polaris Produkte als Ersatz für kostspielige und komplexe Analysegeräte, die traditionell bei der Dosierung von Massenchemikalien verwendet werden. Weitere Einsatzgebiete umfassen Misch-, Spikebildungs-, Ätz- und Überwachungsanwendungen am Einsatzort bei der Waferreinigung, Nassätzen, Nach-Nassätzen-Waferreinigung und anderen Nassprozessen.

Entscheidende Vorteile für Halbleiterfabriken

Ein Inline-Messprinzip für mehrere Nassprozessüberwachungspunkte in der Fabrik

Kontinuierliche Echtzeit-Konzentrationsdaten für eine präzisere Prozesssteuerung und höhere Erträge

Austausch komplexer und kostspieliger Analysegeräte bei der Dosierung von Massenchemikalien und Mischung am Einsatzort

Präzise Konzentrationsmessungen ohne Abweichungen basierend auf Brechungsindextechnologie mit integrierter Temperaturkompensation

Bewährte Leistung unter anspruchsvollen Chemikalien-, Schlamm- und Fabrikbedingungen über mehrere Jahre hinweg

Ausgezeichnete Langzeitstabilität und keine beweglichen Teile für geringen Wartungsaufwand und lange Betriebszeit

Anwendungen in der Überwachung von und Fehlererkennung in Fabrikchemikalienprozessen

Vaisala bietet eine zuverlässige, präzise und kosteneffiziente Inline-Messtechnik in Echtzeit für Konzentrationsmessungen in der nass-chemischen Analytik.
Diese kann kostspielige und komplexe Analysegeräte ersetzen, die für die Überwachung von und Fehlererkennung in Fabrikchemikalienprozessen
sowie für die Steuerung der CMP-Schlammzusammensetzung und -konzentration eingesetzt werden.

Lieferung von Massenchemikalien

Qualitätserkennung eingehender Chemikalien wie HF, IPA, DHF, H2O2, HNO3, HCI, KOH, NaOH und NH4OH.

Halbleiternasschemikalien

Echtzeit-Konzentrationsüberwachung von Nasschemikalien während der Siliziumwaferherstellung in einer Nassbank oder einem Nassprozess.

Peroxidmischung und -dosierung bei CMP

Kritische Prozesssysteme: Überwachung der Konzentration von Wasserstoffperoxid H2O2 oder eines anderen Oxidationsmittels während des CMP-Prozesses (chemisch-mechanisches Planarisieren).

KOH-Ätzen von Silizium

Überwachung der KOH-Badkonzentration zur Bestimmung des korrekten Ätzendpunkts.

Nachätz-Restentfernung mit EKC®-Chemikalien

Überwachung des Wassergehalts in EKC® für Sprühwerkzeuge für Lösemittel.

Chemikalienschnittstellenerkennung bei der Waferreinigung

Sofortiger Wechsel der Waferreinigungschemikalien Flusssäure (HF), deionisiertes Wasser (VE-Wasser), SC-1 (H2O2, NH3).

Solarindustrie (Photovoltaik): Entfernung von Sägematerialresten von Solarwafern

Überwachung der Badkonzentration von Milchsäure CH3CHOHCOOH oder Essigsäure CH3COOH.

Polaris PR53M

Maximale Produktivität und Sicherheit in Ex-Bereichen

Die branchenführenden Vaisala Polaris Prozessrefraktometer bieten Ex-zertifizierte Produktausführungen für Ex-Bereiche.
Je nach gewählter Produktoption, sind die Refraktometer für die Montage entweder in
IECEx/ATEX Zone 0/1 (Nordamerika Class 1 Division 1) oder Zone 2 (Class 1 Division 2) ausgelegt.

Die Polaris Ex-Ausführungen sind Indigo520 kompatibel, um maximale Produktivität zu gewährleisten.
Der Indigo520 und die zugehörigen IS-Geräte im Fall von Zone 0/Class 1 Division 1 werden im sicheren Bereich platziert.

Indigo80 für Vaisala Polaris™ Prozessrefraktometer

Entdecken Sie die unübertroffene Kombination aus Vaisala Indigo80 und Polaris™ Prozessrefraktometern. Mit dem Indigo80, einem Display für unterwegs, können Sie Sonden ohne Ausfallzeiten konfigurieren und kalibrieren, Daten von einzelnen Sonden zur schnellen Diagnose protokollieren und potenziellen Wartungsbedarf einfach ermitteln.

Whitepaper

Whitepaper

Inline-Brechungsindex bei der Prüfungscharakterisierung von eingehenden unverbrauchten und abfließenden verbrauchten CMP-Schlämmen

Inline-Messungen des Brechungsindex sind das gängige Verfahren, um den Wasserstoffperoxidgehalt in CMP-Schlämmen zu qualifizieren. Der Peroxidgehalt ist jedoch nicht die einzige interessante Schlammmetrik. Typischerweise werden Schlämme vom Hersteller in konzentrierter Form geliefert und dann in der Fabrik mit Wasser und Peroxid verdünnt. Obwohl die Schlammdichte ein kritischer Parameter für die CMP-Leistung ist, kann die Eingangsdichte von Charge zu Charge variieren.

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Inline-Brechungsindex ersetzt Autotitration zur Qualifizierung der H₂O₂-Konzentration in CMP von Wolfram

Brechungsindexmessungen haben sich als gängiges Verfahren zur Qualifizierung des Peroxidgehalts in Schlämmen für CMP von Wolfram etabliert. In vielen neu entstehenden Prozessabläufen kommt CMP als wichtiges Hilfsmittel für den Aufbau von Schaltkreisstrukturen zum Einsatz. Dadurch werden sowohl die Anzahl der CMP-Schritte als auch mögliche Ertragsverluste erhöht, wenn die Schlammzusammensetzung von der Spezifikation abweicht. Während Autotitrationsmessungen äußerst genaue Ergebnisse liefern können, verursachen sie hohe Investitionsgüterkosten und laufende Wartungskosten und ermöglichen nur getrennte Probenahmen in festgelegten Intervallen. Der Brechungsindex, eine kontinuierliche Messung, bei der kein Schlamm verbraucht wird, hilft Fabriken dabei, Fehler in der Schlammzusammensetzung schnell zu erkennen, um die Anzahl gefährdeter Wafer zu verringern.

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Inline-Überwachung des Brechungsindex zur Erkennung von CMP-Schlammfehlern

Inline-Brechungsindexmessungen haben sich als gängiges Verfahren zur Erkennung von Fehlern in der Mischung und Dosierung von CMP-Schlämmen führender Fabriken etabliert. Der Brechungsindex, eine kontinuierliche Messung ohne Probenahmen, unterstützt Fabriken dabei, Änderungen in der Schlammzusammensetzung schnell zu erkennen.

Nach der Kalibrierung auf die Temperatur-/Brechungsindexeigenschaften eines bestimmten Schlamms können Brechungsindexmessungen die Konzentration von Wasserstoffperoxid im Schlamm mit einer Genauigkeit von ±0,02 % pro Gewicht für Kupfer- und Wolframschlämmen bestimmen. In Langzeitstudien an dieser Spitzenfabrik konnten Messungen für CMP-Prozesse mit Low-Node-Technologie drei Jahre lang zuverlässig Schlammzusammensetzungen nachweisen, ohne dass die Messgeräte über das routinemäßige Spülen des Schlammmischertanks hinaus gewartet werden mussten.

Whitepaper

In-situ-Überwachung von Chemikalien für die Chemikalienbeschaffung in der Halbleiterfertigung

Die Qualität eingehender Chemikalien wurde den Chemikalienlieferanten überlassen. Halbleiterhersteller sind nur sehr eingeschränkt oder gar nicht in der Lage, Probleme mit den Prozesschemikalien ihrer Lieferanten festzustellen. Es wurde ermittelt, dass das Produkt jeglichen Änderungen eingehender Chemikalien ausgesetzt ist, unabhängig von der Ursache, dem Lieferanten, der Mechanik oder der Person. Tatsächlich kann gesagt werden, dass das Produkt als Überwachungsmittel für die Chemikalien dient. In diesem Whitepaper werden verschiedenste Überwachungsmethoden erörtert. Es werden bewährte Verfahren für eine kosteneffiziente Anwendung für eine Vielzahl von Halbleiterchemikalien vorgeschlagen. Die Lösung des Gesamtproblems stellt nicht ein einzelnes Gerät oder Schema dar, sondern eine Reihe von Geräten und eine Änderung des grundlegenden Denkens im Bereich der Chemikalienverteilung. Unterstützende Daten und andere relevante experimentelle Ergebnisse werden ebenfalls besprochen, um die Ergebnisse zu unterstützen und zu untermauern.

Blogs, Webinare und Erfolgsgeschichten

Zoomed in semiconductor wafer
Leitfaden

Verstehen und Nutzen von Echtzeitdaten im CMP-Prozess

Genaue und schnelle Messungen von Brechungsindex und relativer Feuchte für optimierte CMP-Werkzeugleistung

Wussten Sie, dass die Messung des Brechungsindex mit einem Inline-Refraktometer eine sichere und kostengünstige
Echtzeitmethode mit geringem Wartungsaufwand ist? Sie dient zum Beispiel zur Prozessüberwachung, um die Konzentration von Nasschemikalien exakt zu bestimmen.

Messung der Flüssigkeitskonzentration

Vaisala bietet eine breite Palette von Produkten, die auf die Anforderungen der Flüssigkeitsmessung in verschiedenen Industrien zugeschnitten sind.
Erfahren Sie mehr über die Refraktometertechnologie und ihre Anwendungen, und besuchen Sie die Bibliothek mit produktbezogenen Ressourcen.

Sind Sie bereit, einen zuverlässigeren Chemikalienprozess aufzubauen?

Sprechen Sie mit unseren Fachkräften, um zu erfahren, wie Echtzeitmessungen und bereitgestellte Daten das Management der nass-chemischen Analytik Ihrer Fabrik verbessern können.

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