传感器现场校准：如何确保高质量测量

对于使用测量设备的人来说，发现测量设备产生漂移是一个正常的现象。测量漂移可能对数据质量产生重大影响，因此应定期检查所有设备。选择校准方式有时很难：是在实验室还是现场进行，需要多少个校准点，用不用调整设备。在这个时长 30 分钟的网络研讨会中，您将了解如何根据具体情况选择适合的现场校准方法。

网络研讨会主题包括

如果您是控制工程师、设施经理、质量专家、楼宇自动化专家、能效专业人员或者对提高测量精度很感兴趣，那么本次网络研讨会会让您受益良多。

如果您已经参加或注册了此网络研讨会，请单击此处。如果没有注册，请填写表格，观看网络研讨会录像。

Email Address*

First Name*

Last Name*

Company*

Country*

State or Province*

Business Phone*

I authorize Vaisala to send me information about relevant products and services.

点击提交代表您已阅读并同意维萨拉可能会出于《维萨拉隐私政策》中所述目的处理您的个人信息，及根据本政策向中国境外传输。详情请阅读《维萨拉隐私政策》，
您可以随时在此处修改您的偏好设置或取消订阅。

网络研讨会由 Vuokko Lantz 主持，她担任维萨拉工业测量部门的全球产品管理负责人。她在开发和应用面向多个工业和消费领域的传感器技术方面拥有超过 20 年的经验。Vuokko 的技术背景很强，拥有理学博士学位（计算机和信息科学、可用性研究）和理学硕士学位（系统分析和运筹学）。

网络研讨会由 Nevon Mansour 主持，她担任维萨拉工业测量部门的全球产品管理负责人。她在机械工程以及计量和 CO2 测量解决方案方面拥有丰富的经验。