Inline prosessirefraktometrit

nesteiden pitoisuuksien mittaamiseen

K-Patentsin mittaustuotteet

Vaisala K-PATENTS® ‑prosessirefraktometri

Vaisala K-PATENTS ‑prosessirefraktometreja käytetään prosessinohjauksessa ja teollisuusautomaatiossa tarvittaviin nesteiden pitoisuusmittauksiin (inline). Meillä on maailmanlaajuinen maine innovaation, luotettavuuden ja korkean laadun tarjoajana, ja investoimme jatkuvasti tutkimukseen ja kehitykseen varmistaaksemme paikkamme alan huipulla. 

Asiakkaiden mielipiteitä:
"Mittaus on luotettava ja vakaa kalvon voimakkaasta värähtelystä huolimatta."
– Heraproteiinitiivistetehdas, Uusi-Seelanti

"Täyttölinjallamme meni joka vuosi miljoonia litroja hukkaan. Tilavuusvirtaus- ja sameusmittariemme korvaaminen prosessirefraktometreilla (inline) auttoi meitä lyhentämään vaihtoajan lain edellyttämään 5 minuutin minimiaikaan, mikä vähensi hukkaa kahdella kolmasosalla."
– Meijeri, Eurooppa

"Reaaliaikainen prosessirefraktometri on hyvä vaihtoehto titraattorille, sillä se säästää aikaa ja materiaaleja."
– Lääketehdas, Itävalta               

Industrial process refractometer in pharmaceutical manufacturing

Vaisala K-PATENTS ‑prosessirefraktometreja käytetään yleisesti nesteiden pitoisuuksien tai tiheyden määrittämiseen. Tällaisilla mittauksilla on ollut tärkeä asema prosessiteollisuudessa jo yli sadan vuoden ajan.

Digitaalinen refraktometriteknologiamme auttaa parantamaan kaikentyyppisten jalostus-, valmistus- ja laadunvalvontatoimintojen suorituskykyä merkittävästi.

Esimerkiksi inline-pitoisuusmittauksia voidaan käyttää lopullisen pitoisuuden reaaliaikaisena ennustustyökaluna. Tuotannon optimointi edellyttää nopeita, tarkkoja ja oikea-aikaisia toimia. Tuotantokulujen minimointi on mahdollista vähentämällä tuotteen keskipitoisuuden vaihtelua. Kustannussäästöjen suuruus vaihtelee mitattavan komponentin mukaan.

Kriittisen kulman mittaus prosessirefraktometrilla

Täysin digitaalinen mittausperiaate

Mittaukset perustuvat kriittisen kulman mittaukseen. Refraktometrissa on kolme pääosaa: valonlähde, prisma ja kuvantunnistin.  

Valonlähde lähettää valosäteitä prismaan ja prosessiliittymään eri kulmissa. Jyrkässä kulmassa saapuvat valosäteet heijastuvat osittain kuvantunnistimeen ja osittain prosessiin, kun taas pienessä kulmassa saapuvat säteet heijastuvat kokonaan tunnistimeen. Kulmaa, josta kokonaisheijastuminen alkaa, sanotaan kriittiseksi kulmaksi. 

CCD-kamera havaitsee kirkkaan ja tumman alueen, jotka vastaavat osittain heijastunutta ja kokonaan heijastunutta valoa. Kirkkaan ja tumman alueen rajan sijainti korreloi kriittisen kulman kanssa. Koska kriittinen kulma on riippuvainen taitekertoimesta, rajan sijainti korreloi myös liuoksen pitoisuuden kanssa.

Sisäinen lämpötila-anturi mittaa lämpötilaa T prosessinesteen rajapinnassa. Anturi muuntaa taitekertoimen nD ja lämpötilan T pitoisuusyksiköiksi. Vaisala K-PATENTS ‑refraktometri voi näyttää tulokset eri asteikoilla, esimerkiksi Brix-asteina, nesteen tiheytenä tai massaprosentteina. Diagnostiikkaohjelma varmistaa mittauksen luotettavuuden.

Lue lisää taitekertoimiin perustuvista mittauksista (PDF).
 

Asennettu prosessirefraktometri

Refraktometrien kolme sukupolvea

Meillä on tällä hetkellä tuotannossa kolme refraktometriteknologiaa hyödyntävää laitesukupolvea. Uusin ja edistynein niistä on PR-43, jossa yhteen käyttöliittymään voidaan liittää Ethernet-yhteyden tai 4–20 mA:n yhteyden kautta jopa neljä refraktometria. 

Refraktometrisovellusten käyttöalue on laaja, sillä useimmissa nesteitä käyttävissä prosesseissa pitoisuutta on valvottava jatkuvasti laadun varmistamiseksi ja kustannusten alentamiseksi. Vaisala palvelee eri aloja eri tavoin niiden luonteiden ja teknologiavaatimusten mukaan, jotta kullakin alalla voidaan varmistaa tuotteiden ja palvelujen paras mahdollinen laatu.

Napsauttamalla toimialaa saat lisätietoja saatavilla olevista refraktometrimalleista ja ‑sovelluksista.

Kemianteollisuus >>
Elintarvikeala >>
Öljynjalostusala ja petrokemian teollisuus >>
Lääketeollisuus ja bioteknologian ala >>
Paperiteollisuus >>
Puolijohdeteollisuus >>
Sokeriteollisuus >>
Makeutusaineteollisuus >>

MI-käyttöliittymä ja käyttäjä

Refraktometrijärjestelmä

Itsenäiset Vaisala K-PATENTS refraktometrit ovat älykkäitä laitteita, jotka mittaavat ja ilmaisevat pitoisuus- ja diagnostiikkatietoja ja lähettävät 4–20 mA:n signaalin tai Ethernet-signaalin PLC-järjestelmään.

Kaikki refraktometrit voidaan myös liittää fyysiseen käyttöliittymään tai lähettimeen. Käyttöliittymävalikoimassa on niin kestäviä, monikanavaisia teollisuustietokoneita kuin ilmaisulähettimiä ja kompakteja liittymiä, joten käyttäjä voi valita käyttötarkoituksen kannalta parhaan tavan hyödyntää refraktometrien mittaus- ja diagnostiikkatietoja.

Refraktometrin sisäisellä verkkosivulla käyttäjä voi määrittää ja tarkistaa mittalaitteen, seurata sitä ja tehdä sille diagnostiikkatoimia Ethernet-yhteyden kautta. 

Koska taitekerroinmittaus kalibroidaan aina samalla tavalla, refraktometri voidaan vaihtaa helposti toiseen ilman optista uudelleenkalibrointia.

Tärkeimmät edut

Kattava mittausalue

Refraktometri toimii taitekertoimen (nD) koko mittausalueella 1,3200–1,5300, mikä vastaa 0–100 Brix-astetta. Myös optiset mittausalueet ovat saatavilla.

CORE-Optics

Sisäinen CORE-Optics-elementti poistaa vuotojen ja ryöminnän riskin.

Täysin digitaalinen järjestelmä

Värin, kuplien, hiukkasten, virtauksen, lämpötilan tai paineen muutokset eivät vaikuta toimintaan tai tarkkuuteen.

Kestää matalia ja korkeita prosessilämpötiloja

Kompakti malli –40 … +130 °C, mittapäämalli: –40 … +150 °C.

Lämpötilakompensoitu mittauslähtö

Refraktometrissa on sisäinen PT1000-lämpötila-anturi, joka mahdollistaa prosessin lämpötilan nopean mittauksen ja automaattisen lämpötilakompensaation.

Yhteensopiva CIP- ja SIP-prosessien kanssa

Refraktometri kestää kiertopesua (CIP) ja höyrysterilointia (SIP) sekä laitosten puhdistus- ja huuhteluprosesseja.

Erittäin tarkka

Inline-pitoisuusmittauksen tarkkuus on verrattavissa tuotantolaboratorion tarkkuuteen.

Lue lisää tarkkuuslausunnostamme täältä 

Mittalaitteiden helppo tarkistus

Refraktometrit kalibroidaan tehtaalla käyttämällä NIST-jäljitettäviä standardinesteitä. Tämä mahdollistaa mittalaitteiden helpon tarkistuksen käyttäjän omassa laadunvarmistusjärjestelmässä standardinesteiden ja sisäisen tarkistusmenettelyn avulla.

Helppo asentaa

Asennus pääprosessiputkeen tai ‑astiaan suoraan tai erilaisten virtauskennojen kautta; ohitusjärjestelyjä ei tarvita. Laite voidaan asentaa myös astiaan, jossa on sekoitin tai kaavin. Myös räätälöidyt ratkaisut ovat mahdollisia.

Huoltovapaa

Refraktometri ei tarvitse säännöllistä kunnossapitoa, koska toistuvasti vaihdettavia kuluvia osia ei ole. Tämä tarkoittaa alhaisia omistuskustannuksia.

Tuotehyväksynnät ja sertifioinnit

Kaikkien mittalaitteiden kehitystyössä on otettu huomioon alakohtaiset säännökset ja turvallisuusnäkökohdat. Tuotehyväksynnät ja sertifikaatit mahdollistavat tuotteiden valmistuksen ja toimituksen ATEX-, CSA-, FM-, IEC-, CRN-, KEMA-, DEKRA AND SANITARY 3-A- sekä EHEDG-säännösten mukaisesti.

BLOGI: Sukellus nesteiden pitoisuusmittauksissa käytettävään taitekerrointeknologiaan

Tutkijat pitävät taitekerrointa ihanteellisena tapana mitata nesteiden pitoisuuksia.
Suhteellisen yksikertainen menettelytapa perustuu valon taittumiseen. Tätä valon ominaisuutta voidaan havainnollistaa yksinkertaisesti asettamalla lyijykynä lasiin, jossa on nestettä. Näyttää siltä, kuin lyijykynä taipuisi, mutta itse asiassa valo taipuu.

Eikö sovellustasi ole luettelossa?

Ota yhteyttä

Varmistaaksemme jatkuvan tuen sekä ennen tuotteidemme ostoa että oston jälkeen tarjoamme paikallista sovelluskonsultointia, koulutusta, kunnossapitopalveluja ja asiantuntevia tukipalveluja paikallisesti valtuutettujen myyjiemme sekä pääkonttorimme ja paikallisten palvelukeskusten kautta.

Nesteiden pitoisuuksien mittaaminen

Vaisala tarjoaa laajan valikoiman räätälöityjä tuotteita eri alojen nestemittaustarpeisiin . Lue lisää refraktometriteknologiasta ja sen käyttökohteista ja tutustu tuotemateriaalikirjastoomme.