Vaisala K-PATENTS® PR-33-S puolijohderefraktometri
puolijohteiden märkäprosesseihin
Kompakti refraktometri, jossa on ultrapuhtaasta muunnellusta PTFE-muovista valmistettu virtauskenno puolijohteiden märkäprosesseihin. Laite kytketään prosessiin ¼–1 tuuman muhvi- tai kierreliitoksella.
Vaisala K-PATENTS® PR-33-S puolijohderefraktometri monitoroi valmistuskemikaalien pitoisuutta puhdashuoneympäristöissä ja integroiduissa prosessityökaluissa (sekoitus, puhdistus, etsaus ja kemiallismekaaninen tasoitus eli CMP).
PR-33-S koostuu ultrapuhtaasta muunnellusta PTFE-muovista valmistetusta virtauskennosta sekä Ethernet-kaapelista, jota voi käyttää minkä tahansa standardinmukaisen PoE (Power-over-Ethernet) -kytkimen avulla virran siirtämiseksi anturiin ja tietojen siirtämiseksi tietokoneeseen. PR-33-S valvoo kemikaalien pitoisuuksia reaaliaikaisesti ja antaa Ethernetin kautta lähtösignaalin ja välittömän palautteen, jos kemikaalin pitoisuus ei ole määritysten mukainen. Laitteeseen voidaan määrittää esimerkiksi matalan ja korkean pitoisuuden hälytykset, mitkä auttavat kylvyn keston hallinnassa ja pidentämisessä. Pitoisuus määritetään liuoksen taitekertoimen nD-arvon optisella mittauksella sekä lämpötilamittauksella.
PR-33-S asennetaan suoraan prosessilinjaan kierre- tai muhviliitoksella. PR-33-S:n rakenne on kompakti ja metalliton, ja se mahtuu pieneen tilaan.
Tärkeimmät ominaisuudet:
- N.I.S.T.-jäljitettävä kalibrointi, tarkistus standardinmukaisilla taitekerroinnesteillä ja validoidulla menettelyllä.
- Patentoitu CORE-optiikka (Yhdysvaltain patenttinro US6067151).
- Ethernet-etäpaneeli tietojen kirjausta ja etäkäyttöä varten.
- Tietoliikenne perustuu standardinmukaisiin UDP/IP-protokolliin.
- Prosessin lämpötila-alue: −20 ... +85 °C.
- Nopea prosessin lämpötilamittaus sisäisen Pt1000-anturin ja automaattisen digitaalisen lämpötilakompensaation avulla.
