Mantenimiento y reparación de los refractómetros de proceso K‑PATENTS® de Vaisala Nuestros servicios de mantenimiento y reparación son para situaciones en las que su refractómetro de proceso K-PATENTS® de Vaisala requiere inspección, mantenimiento preventivo o una reparación más integral para verificar o recuperar el rendimiento original. No importa la necesidad, puede contar con la asistencia de nuestros expertos. El servicio incluye lo siguiente: Diagnóstico de fallas Inspecciones Reemplazo de piezas según inspección Pruebas funcionales Calibración y verificación Informe de servicio y documentación de verificación Los refractómetros deben devolverse al vendedor original, que es, en general, el representante local. Para poder efectuar las solicitudes de devolución, el representante debe completar el formulario de Solicitud de Autorización de Devolución de Material (RMA, Return Materials Authorization). Completar el formulario de Autorización de Devolución de Material (RMA) para solicitar la devolución del producto RMA notification for Online Store orders Beneficios clave Asegure el ciclo de vida útil de su inversión El servicio es una opción asequible que le permite verificar o recuperar el rendimiento original de su dispositivo sin compromisos. Independientemente del caso, nos dedicamos a asegurar el ciclo de vida útil de su refractómetro. Tranquilidad Nuestro servicio incluye siempre medidas de mantenimiento preventivo, desde inspecciones hasta reemplazos de piezas y verificación, según sea necesario. Al utilizar el servicio, puede estar seguro de que el dispositivo funciona según lo previsto; por tal motivo ofrecemos seis (6) meses de garantía en piezas reemplazadas y mano de obra. Servicio de calidad por parte del fabricante Nuestras modernas instalaciones de servicio y la disponibilidad optimizada de repuestos permiten tiempos de respuesta de reparación rápidos sin sorpresas. Como fabricantes, utilizamos solo piezas y procedimientos originales que nos permiten cumplir con los más altos estándares de calidad.
