Puolijohderefraktometri

Vaisala K‑PATENTS® -puolijohderefraktometrit ovat kompakteja, pieneen tilaan mahtuvia tuotteita, jotka on suunniteltu integroitaviksi puolijohdeprosessityökaluun tai ultrapuhtaaseen kaappiin ja joiden mittateknologia soveltuu märkäprosessien pitoisuusmittauksiin.